SEM掃描電鏡樣品制備之樣品熱穩(wěn)性要好,且不會被電子束分解
日期:2023-07-17 13:43:31 瀏覽次數(shù):73
電子束下樣品熱穩(wěn)性要好,且不會被電子束分解。在掃描電鏡正常觀察圖像時,電子探針的束流通常為 nA 級別,所以對于大多數(shù)樣品,受熱不是問題。但對一些熱敏材料會出現(xiàn)損傷,觀察部位出現(xiàn)起泡、龜裂、孔洞(熱損傷),甚至有些樣品在高溫下分解,釋放氣體或物質(zhì)(熱分解),當他們進入電鏡內(nèi)部,勢必會影響電鏡性能,甚至引起故障。
解決方案:
這類樣品多為生物和有機聚合物樣品,在表面鍍膜可以提高樣品的穩(wěn)定性,觀察時也盡量選擇較小加速電壓和束流強度,以減少電子束對樣品的損傷。
聯(lián)系我們
全國服務(wù)熱線
4001-123-022
公司:微儀光電臺式掃描電子顯微鏡銷售部
地址:天津市東麗區(qū)華明**產(chǎn)業(yè)區(qū)華興路15號A座
相關(guān)資訊推薦
- SEM掃描電鏡不同樣品的制備方法介紹
- SEM掃描電鏡從制樣到成像的全鏈路解決方案介紹
- SEM掃描電鏡各工作模式應(yīng)該如何選擇呢?
- SEM掃描電鏡各工作模式對應(yīng)的應(yīng)用領(lǐng)域介紹
- SEM掃描電鏡樣品圖像變形的原因和解決辦法分享
- SEM掃描電鏡在磁性材料測試中的挑戰(zhàn)、解決方案與應(yīng)用實踐
- SEM掃描電鏡拍攝條件全解析:從參數(shù)設(shè)置到樣品制備的指南
- SEM掃描電鏡生物樣品制備技術(shù)全攻略:從固定到鍍膜的關(guān)鍵細節(jié)解析
- SEM掃描電鏡故障全攻略:從"電子迷霧"中拯救您的科研利器
- SEM掃描電鏡的操作難不難?看完這篇就懂了!